深入探究在許多復(fù)雜的測(cè)試方案中，示波器并不能為其提供足夠的通道數(shù)量。工程師要么在實(shí)驗(yàn)室中多找?guī)着_(tái)示波器，要么使用邏輯分析儀。但不管是哪種情況，復(fù)雜性都會(huì)明顯提高。例如數(shù)字設(shè)計(jì)中經(jīng)常遇到的建立保持違規(guī)問(wèn)題。傳統(tǒng)電路中的時(shí)鐘速度較低，對(duì)信號(hào)建立保持性能的余量較大。但隨著系統(tǒng)主頻的不斷增加，PCB設(shè)計(jì)的日益復(fù)雜，建立保持違規(guī)問(wèn)題越來(lái)越常見(jiàn)。檢測(cè)該問(wèn)題需要設(shè)定一個(gè)通道為時(shí)鐘信號(hào)，另一個(gè)通道為數(shù)據(jù)信號(hào)，并設(shè)定相應(yīng)的時(shí)間范圍。但需要同時(shí)測(cè)量多路信號(hào)的建立保持問(wèn)題時(shí)，傳統(tǒng)的示波器顯然無(wú)法滿足，需要帶有數(shù)字邏輯通道的示波器才能完成此類工作。

什么情況下選擇萬(wàn)用表OR示波器？

　　萬(wàn)用表：主要用于測(cè)試某一時(shí)間點(diǎn)的電壓/電流值等

　　示波器：用以繪制電壓/電流隨時(shí)間變化的波形。

　　問(wèn)題1：基于這兩者的不同之處，又怎樣選擇在什么樣的測(cè)試條件中正確的選擇并使用呢?

　　答：以電容充放電過(guò)程作為案例，工作原理以圖1所示。使用5V直流電源給系統(tǒng)供電，當(dāng)S1閉合時(shí)，電容處于充電狀態(tài)；當(dāng)S1斷開(kāi)時(shí)，電容處于放電狀態(tài)。理想情況下，圖2為充放電波形解析，其中Ta為電容充電完成所需的時(shí)間，Tb為電容放電完成所需的時(shí)間。

　　在全程測(cè)試中使用到致遠(yuǎn)電子的萬(wàn)用表（DMM6000）和示波器（ZDS4054 Plus）。

一般而言，測(cè)量混頻器的幅度，相位和群時(shí)延響應(yīng)特性要求網(wǎng)絡(luò)分析儀外接本振。然而，在系統(tǒng)中，本振可能內(nèi)置在被測(cè)的變頻器件中，網(wǎng)絡(luò)分析儀無(wú)法連接。此外，之前的測(cè)量方法也假定參考混頻器必須采用和被測(cè)混頻器相同的本振來(lái)驅(qū)動(dòng)；如果網(wǎng)絡(luò)分析儀內(nèi)置本振的話就不用了。利用內(nèi)置的本振源，安捷倫公司PNA微波網(wǎng)絡(luò)分析儀新增的內(nèi)嵌本振測(cè)量功能可以讓用戶準(zhǔn)確地測(cè)量被測(cè)混頻器的相對(duì)相位和群時(shí)延響應(yīng)，而不用外接參考本振信號(hào)。簡(jiǎn)單的兩步校準(zhǔn)讓用戶把更多的時(shí)間花在測(cè)量器件上。測(cè)試條件得到優(yōu)化可以程度地測(cè)量元器件，同時(shí)不降低測(cè)量質(zhì)量。